|
44420 Scanning probe microscopy
| |
Engelsk titel: Scanning Probe Microscopy
| |
| | Type: | Å, Sprog: EEE |
| valgfrit kursus initiativkursus |
|
|
Point:
5 point |
|
| Udbydes af:
Mikroelektronik Centret
(MIC) |
| Ønskelige forudsætninger: 10002 Mekanisk og fysisk modellering/10013 Elektromagnetisme |
| Vejledende semester:
4. semester. |
| Deltager antal: Max. 16 |
| Undervisningsform: Forelæsninger efterfulgt af eksperimentelle øvelser |
| Evalueringsform:
Godkendelse af rapport
(13-skala
) |
| Kontaktperson: |
Anja Boisen, MIC, bygn. 345Ø, tlf. 4525 5727
Sergey Bozhevolni, MIC, bygn. 345Ø, tlf. 4525 5763
Ulrich Quaade, MIC, bygn. 345Ø, tlf. 4525 5735 |
|
| Kursusmål: Kursets formål er at give den studerende et overordnet kendskab til scanning probe microscopy (SPM) med hovedvægt på scanning tunneling microscopy (STM), atomic force microscopy (AFM) og scanning near-field optical microscopy (SNOM), således at den studerende får overblik over teknikkernes styrker og begrænsninger samt ern grundlæggende forståelse af deres virkemåde. |
| Kursusindhold: Kurset indledes med en overordnet introduktion til scanning probe microscopy. Herefter følger tre forelæsningsserier, som omfatter hhv. STM, AFM og SNOM. De grundlæggende fysiske principper bag de tre målemetoder vil blive beskrevet. Derefter vil der blive givet et bredt udvalg af eksempler på anvendelser indenfor naturvidenskaben, hvor aktuelle forskningsprojekter på MIC vil blive inddraget. Typiske, praktiske problemer vil blive diskuteret, således at de studerende har de fornødne forudsætninger for at benytte mikroskoperne og for at fortolke de opnåede billeder. Den sidste del af kurset er et eksperimentelt forløb, hvor de studerende vil få lejlighed til at arbejde koncentreret med et af mikroskoperne. Det eksperimentelle forløb afsluttes med en rapport. |
|
|
