| Tidligere kursus: C4470 |
| Udbydes af:
Mikroelektronik Centret
(MIC) |
| Pointspærring: C4470 |
| Faglige forudsætninger: 10207.2101010004/10005 |
| Vejledende semester:
6. eller 7. semester. |
| Undervisningsform: Selvstændigt eksperimentelt arbejde i 3 uger, 8 timer pr. dag. |
| Evalueringsform:
Rapportaflevering
(
bestået/ikke bestået
) |
| Bemærkninger: Kurset udgør den eksperimentelle indgang til MICs undervisningstilbud og er en nødvendig forudsætning for visse typer af eksamensprojekter ved MIC. |
| Kontaktperson: |
Ole Hansen, MIC, bygn. 345ø, tlf. 4525 5715 |
|
| Kursusmål: At introducere studenten til moderne karakteriseringsmetoder for kemiske, mekaniske, elektriske og optiske egenskaber for halvledermaterialer og -komponenter. |
| Kursusindhold: Et eller flere eksperimenter blandt: Kemisk analyse af halvleder heterostrukturer ved hjælp af SIMS (Secondary Ion Mass Spectroscopy). Elektrisk karakterisering af halvledere med I-V, C-V, DLTS (Deep Level Transient Spectroscopy) samt levetidsmålinger. Karakterisering af brydningsindeks, tab etc. for integrerede optiske komponenter. Photoluminiscens og -reflektans målinger på halvleder heterostrukturer og kvantebrønde. Mekaniske egenskaber for mikromekaniske strukturer. |
