DTU
Uddannelse
Forrige side | Gældende version Arkiv 1998/1999 
 
44582 Halvlederteknologi: fremstilling og karakterisering 2
Engelsk titel: Semiconductor Technology: Fabrication and Characterization 2

Type: Å, Sprog: E
initiativkursus
Point: 5 point
Udbydes af: Mikroelektronik Centret (MIC)
Pointspærring: C4482
Obligatoriske forudsætninger: 44201/44203/44207/44210/44250/44251 *)
Vejledende semester: 7. semester.
Deltager antal: Max. 12
Undervisningsform: Selvstændigt eksperimentelt arbejde i 14 ugers perioden.
Evalueringsform: Rapportaflevering (13-skala )
Bemærkninger: Kurset udgør den eksperimentelle indgang til MICs undervisningstilbud og er en nødvendig forudsætning for visse typer af eksamensprojekter ved MIC.
*) Følgende gamle kurser er desuden obligatoriske: C4401/C4403/C4407/C4410/C4450/C4451
Kontaktperson: Otto Leistiko, MIC, bygn. 349, tlf. 4525 6304
Kursusmål: At give studenten eksperimentel erfaring med fremstilling og evaluering af halvledermaterialer og komponenter i MICs laboratorium.
Kursusindhold: Eksperimentelt arbejde med relation til forskningsprojekter ved MIC: CMOS på silicium på isolator teknologiudvikling. SiGe HBT fremstilling og evaluering. Femtosekund spektroskopi af ladningsbærerdynamik i halvlederstrukturer. Fremstilling og evaluering af planare, integrerede optiske komponenter på silicium. Fremstilling og evaluering af mikromekaniske komponenter.